型號(hào)：儀電物光WKL-722

品名：粉塵形貌分散度測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：

將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合，由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形象、快速和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。

1.圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、自動(dòng)分割等幾十種功能

2.可直接對(duì)粉塵粒徑的大小、形狀、周長(zhǎng)、面積以及分布均勻狀況等各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行計(jì)算分析，并按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將粒徑分布定義為四個(gè)區(qū)域，即：≤2um、2um～5um、5un～10um、＞10um，直接輸出檢測(cè)報(bào)告，也可以根據(jù)用戶要求進(jìn)行自定義分級(jí)。其操作方法簡(jiǎn)單、實(shí)用、快捷

3.通過先進(jìn)的攝像技術(shù)，不僅可以保持粉塵顆粒的原型，而且在對(duì)重疊粉塵的處理方法上，也采用了先進(jìn)的圖像分割技術(shù)

上海儀電物光WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍：0.1～3000（微米）

總放大倍數(shù)：8000倍

最大分辨率：0.1微米/像素

重復(fù)性誤差：≤±1％

數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD)：500萬(wàn)像素

數(shù)據(jù)儲(chǔ)存：電腦另配

通信接口：USB

操作系統(tǒng)：Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可

電源：AC220V ±10％ 200W

儀器尺寸：270mmX410mmX440mm

儀器凈重：15kg

上海儀電物光WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：